光学膜厚监控仪

HOM2 Series

高精度光学膜厚监控仪

是用于镀制增透膜及各种光学滤光片的真空镀膜系统的膜厚控制。

特征
高稳定性光纤光学系统和超低噪音电路设计，实现+0.001%超低噪音
测光方式 对应透射、反射可选
运用先进的成膜计算控制技术,光透过率的极值监控能力可达+0.05%
规格
测定区分 反射式
可视域膜厚计 透过式
可视域膜厚计 反射式
近赤外域膜厚计 透过式
近赤外域膜厚计
型号 HOM2-R-
VIS350 HOM2-T-
VIS350 HOM2-R-
IR900 HOM2-T-
IR900
波长带域 350nm ～ 1100nm 900nm ～ 2400nm
光源 卤素灯 卤素灯
电源 AC100V±10%, 50/60Hz